SMT 贴片、DIP 插件、焊点与元件贴装的全板检测。
从真实产线、真实场景来的反馈，是花钱买不到的。
八年驻厂、一条条产线，慢慢沉淀出来的工程经验。
全栈自研 —— 从传感器到世界模型，整条链路自己掌握。
1 亿+ 真实工业场景数据，持续打磨同一个世界模型。
典型检测点 · KEY CHECKS
焊点：虚焊 / 连锡 / 少锡元件：缺件 / 错件 / 反向 / 偏移极性与丝印错误BGA / QFN 空洞与桥连金手指划伤 / 氧化三防漆覆盖与异物
行业方案 · INDUSTRY
电子 / PCBA
SMT / DIP 与半导体后道，PCBA 全板检测的标杆场景。
客户案例 · CASE STUDIES
电子 / PCBA · 真实产线落地
从 SMT 焊点到 BGA 隐藏焊球、被动元件微裂纹 —— AI-AOI 把误报压到最低，难检缺陷照样挑得出。
场景 · SMT 焊后全检
某头部 PCB 工厂 · 焊后 AOI 误报治理
挑战传统 AOI 把大量良品误判为缺陷，操作员逐张人工复判，复检产能被严重浪费。
方案AI-AOI 做二道闸门 + APDT 正样本学习，只学良品就能分清真伪，5 分钟 0 代码换型。
−80%误报
<1%漏检
−80%复检量
场景 · BGA / QFN 隐藏焊点
某汽车电子 PCBA 厂 · 封装下焊点检测
挑战BGA / QFN 焊点藏在封装下方，光学 AOI 根本看不见，空洞、桥连难以稳定判定。
方案3D AI-AOI 设备 + 世界模型，在低对比图像里识别空洞、桥连、不润湿等微缺陷。
99%+检出率
3D隐藏焊点
100%随线全检
场景 · MLCC 微裂纹
某被动元件厂 · MLCC 外观与微裂纹
挑战MLCC 微裂纹、电极错位只有微米级，人工判读疲劳、一致性差，缺陷样本又稀少。
方案APDT 正样本学习 1–20 张良品即可上线，微米级精度 + 实例分割精准定位。
1–20良品样本
μm微米级精度
ms每颗检测
案例为匿名行业场景，指标为微链道爱方案的典型可达范围。
深度案例 · IN-DEPTH
电子 / PCBA · 深度案例
逐一拆解真实场景下的落地路径 —— 行业背景、痛点、DaoAI 方案与成效。
SMT 焊后 AOI 误报治理：用 AI 二道闸门把复检量压下来
某头部消费电子 PCBA 厂的传统 AOI 误报率长期居高，复检工位人力吃紧。DaoAI AI-AOI 软件叠加 APDT 正样本学习，作为传统 AOI 之后的二道闸门，误报下降约 80%，人工复检量随之下降 80%，漏检控制在 1% 以内。
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BGA/QFN 隐藏焊点的 3D AI 检测：空洞、桥连、不润湿一次看清
某通信模块代工厂的 BGA/QFN 焊球藏在封装下方，2D 光学无能为力，X-ray 抽检又慢又贵。DaoAI 3D AI-AOI 设备对隐藏焊点做三维成像与 AI 判读，空洞、桥连、不润湿的综合检出率达 99% 以上。
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MLCC 微裂纹：1–20 张良品起步，微米级、毫秒级每颗
某被动元件厂的 MLCC 端面微裂纹宽度仅微米级，传统视觉难稳定捕捉，而缺陷样本极难收集。DaoAI APDT 正样本学习仅用 1–20 张良品即可上线，微米级分辨、毫秒级检完每一颗。
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元件极性反误报：164 张误报图、<1 秒推理、99% 判准
某汽车电子 PCBA 厂的二极管、电解电容极性判定误报频发，传统 AOI 把丝印反光、本体色差当成反向。DaoAI 仅用 164 张历史误报图做少样本学习，推理 <1 秒，极性判定准确率约 99%。
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PCBA 装配缺漏件与连接器错漏装：高节拍下一次全检
某工业控制板 PCBA 厂的成品装配环节，连接器、跳线、散热件等容易漏装、错装、方向装反，人工终检覆盖不全。DaoAI AI-AOI 在高节拍下对装配完整性做在线全检，缺漏件与错漏装综合检出率 97% 以上。
阅读全文常见问题 · FAQ
电子 / PCBA · AI 视觉质检常见问题
电子 / PCBA 行业的 AI 视觉质检能检测哪些缺陷？
覆盖 SMT 焊后缺陷（虚焊、连锡、偏位、立碑）、元件缺件与错件、极性反向、BGA / QFN 隐藏焊点以及 MLCC 微裂等。DaoAI 以视觉基础模型识别这些细微、低对比的缺陷，兼顾检出率与误报控制。
DaoAI 的 AI-AOI 如何降低 SMT 产线的误报？
在传统 AOI 之后加一道 AI 二次判图闸门，用深度学习复判可疑点，可将误报复检量压低七成以上，同时不漏真实缺陷，释放复检人力。
检测 BGA、QFN 等隐藏焊点需要什么方案？
DaoAI 3D AI-AOI 通过三维形貌重建检测 BGA / QFN 等器件底部的隐藏焊点与共面度问题，弥补 2D 光学无法穿透的盲区。
产品换型频繁，AI 质检编程会不会很慢？
不会。DaoAI 软件用一块良品样板即可在 5 分钟内自动编程，无需 CAD、无需缺陷样本库，换型时快速复用，适合多品种小批量电子制造。